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納米粒度及zeta電位分析儀

1、粒度測量動態(tài)光散射(DLS)法原理：當激光照射到分散于液體介質(zhì)中的微小顆粒時，由于顆粒的布朗運動引起散射光的頻率偏移，導(dǎo)致散射光信號隨時間發(fā)生動態(tài)變化，該變化的大小與顆粒的布朗運動速度有關(guān)，而顆粒的布朗運動速度又取決于顆粒粒徑的大小，顆粒大布朗運動速度低，反之顆粒小布朗運動速度高，因此動態(tài)光散射技術(shù)是

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品種介紹
技術(shù)規(guī)格

1、粒度測量

動態(tài)光散射(DLS)法原理：

當激光照射到分散于液體介質(zhì)中的微小顆粒時，由于顆粒的布朗運動引起散射光的頻率偏移，導(dǎo)致散射光信號隨時間發(fā)生動態(tài)變化，該變化的大小與顆粒的布朗運動速度有關(guān)，而顆粒的布朗運動速度又取決于顆粒粒徑的大小，顆粒大布朗運動速度低，反之顆粒小布朗運動速度高，因此動態(tài)光散射技術(shù)是分析樣品顆粒的散射光強隨時間的漲落規(guī)律，使用光子探測器在固定的角度采集散射光，通過相關(guān)器進行自相關(guān)運算得到相關(guān)函數(shù)，再經(jīng)過數(shù)學(xué)反演獲得顆粒粒徑信息。

2、ZETA電位測量

ZETA電位是表征分散體系穩(wěn)定性的重要指標ZETA電位愈高，顆粒間的相互排斥力越大，膠體體系愈穩(wěn)定，因此通過電泳光散射法測量ZETA電位可以預(yù)測膠體的穩(wěn)定性。

上海梓夢科技有限公司

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